冲击试验箱适用于电工、电子零部件、半导体、电子线路板、金属材料、轴承,显示等各种材料、在温度急剧变化环境下对产品的破坏性能试验。试验箱上部为高温区，下部为低温区，试件放置在试验箱中部工作室内，高温冲击时上风打开，形成高温内循环。低温冲击时,上风门关闭，下风门打开,形成低温内循环，如有需要还可以与环境温连通，形成三箱法试验外配控制计算机可通过专用软件直接显示和打印试验数据／曲线，并将试验所记录的数据进行存储；配有远程USB接口。